仪器编号: 20121468 |
仪器型号: Bruker-AXS D8 Advance |
购置日期: 2012-05-16 |
单价(万元): 202.0964 |
厂家: 布鲁克Bruker |
技术指标: 靶材:封闭靶 测角仪半径:300mm |
存放位置:340栋103X射线衍射仪实验室 |
保管单位:校级分析测试中心 |
管理负责人:李丽 |
共享: 预约仪器 |
预约须知: |
收费参考标准: |
主要功能: X 射线衍射仪,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料;可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietve ld 定量分析 (暂未配套对应软件) 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度等 6. 可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析 |
仪器设备开放时间: 详情请查看仪器预约表 |